Mit dem Ende des Live-Tests soll die Produktion von ePässen in den USA im nächsten Monat anlaufen. Im Unterschied zu Deutschland, das bei den neuen Pässen Chips von Inifineon und Philips einsetzt, hat in den USA bisher nur Infineon North America die Zulassung des zuständigen National Institutes of Standards and Technologies (NIST) für amerikanische Reisepässe erhalten. RFID-Chips von Axalto, On Track und ASK befinden sich noch in "erweiterten Erprobungstests", heißt es beim NIST. Ob sich diese Tests auf bekannt gewordene Mängel beim Zugriffsschutz beziehen, ist unklar. Das NIST beantwortete eine entsprechende Anfrage von heise online mit dem Hinweis, dass man in Angelegenheiten des Department of Homeland Security keine Auskunft geben könne. Üblicherweise veröffentlicht das NIST neben den technischen Spezifikationen für Hersteller auch Angaben zu den Testprozeduren.
Als nächstes europäisches Land wird Frankreich im Juni den ePass einführen. Dieser Pass wird wie sein deutsches Pendant zunächst nur über ein Gesichtsbild samt Basic Access Control verfügen und erst ab 2009 den Fingerabdruck enthalten. Ursprünglich sollte der französische Pass zusammen mit dem deutschen eingeführt werden. Ein Streik gegen den Entschluss der französischen Regierung, eine Privatfirma anstelle der staatlichen Ausweisdruckerei mit der Ausgabe der neuen ePässe zu beauftragen, verzögerte den Zeitplan. In Deutschland werden die ePässe von der Bundesdruckerei in Berlin produziert, die seit einigen Jahren ein Privatunternehmen ist.
In Berlin soll nach Angaben des Bundesinnenministeriums vom 29. Mai bis 1. Juni ein "Test-Event" stattfinden, bei dem alle bisher produzierten ePässe und die verschiedenen Pass-Lesegeräte in einem Crossover-Test demonstrieren sollen, dass es keine technischen Barrieren mehr gibt.
Zur Einführung des ePasses und den Auseinandersetzungen um Ausweise mit digitalisierten biometrischen Merkmalen siehe den Artikel auf c't aktuell (mit Linkliste zu den wichtigsten Artikeln aus der Berichterstattung auf heise online sowie in c't, Technology Review und Telepolis): Die Auseinandersetzung um Ausweise mit digitalisierten biometrischen Merkmalen.
Autor: (Detlef Borches) / (jk/c't)
Quelle: Heise online, 21.04.2006
